Evaluación De Estrategias De Test De Circuitos Utilizando Modelos De Fallas Estadísticos: Un Caso De Estudio

Abstract

En el presente trabajo se evalúa la capacidad de la estrategia de test denominada Método de
Análisis de Transitorio (TRAM) para detectar fallas en los elementos de un filtro bajo condiciones de
variabilidad estadística de los mismos. Esta es una perspectiva de evaluación no tradicional que
permite la generación de nuevos datos y métricas referidas a un circuito de una complejidad mayor
que el previamente reportado por estos autores.
El modelo de falla adoptado consiste en variar todos los parámetros del circuito dentro de sus
tolerancias, con distribución normal, excepto uno que adopta un valor fuera de tolerancia, representado
como una desviación del valor nominal del mismo. Los resultados de simulación de fallas muestran
que, utilizando TRAM, la probabilidad de detectar fallas para desviaciones mayores de 35% es alta
(mayor de 80%) para casi todos los componentes con excepción de dos, que se consideran difícil de
detectar. No obstante, se encuentra que las fallas de desviación pequeñas son difíciles de detectar. En
el caso de que la aplicación requiera la detección de este tipo de desviaciones, la aplicación de este
método de test debiera desaconsejarse.